日本OMRON形狀測量傳感器
支持多品種、小批量

可向控制器本體輸入zui多16個（16個數(shù)據(jù)庫）測量條件。只需通過信號輸入/指令輸入/按鍵操作即可進行數(shù)據(jù)庫切換。如果使用數(shù)據(jù)儲存單元，更可以輸入zui多4096個數(shù)據(jù)庫，即使在品種繁多的線上，也可快速對應各種測量。
更簡單，更高精度的形狀測量。
穩(wěn)定測量難以檢測的顏色、材質與復雜形狀
構造簡單
安裝簡便。只需要安裝傳感器探頭與控制器，即可投入使用。
傾斜的透明物體、反光面
對于反光面和透明物體等正反射較強的測量對象，如果稍有傾斜，光反射量就會驟減，導致測量變得不穩(wěn)定。而配置高高斯透鏡探頭的ZG2-WDS3VT課解決該問題。傾斜對應范圍比此前型號擴大2.5倍，可在zui大±5°傾斜范圍內實現(xiàn)穩(wěn)定測量。使用與檢測鏡頭與玻璃板等的組裝。
光學方式    漫反射    正反射    漫反射    正反射    漫反射    正反射    漫反射
測量范圍    高度方向    50±3mm    44±2mm    100±12mm    94±10mm    210±48mm 
(高精度模式中)    22.3±0.5mm    10.6±0.4mm
寬度方向    8mmTYP    22mmTYP    70mmTYP    0.25μm
分辨率    高度方向(*1)    1μm    2.5μm    6μm    3mmTYP
寬度方向    13μm 
(8mm/631pix)    35μm 
(22mm/631pix)    111μm111μm 
(70mm/631pix)    5μm 
(3mm/631pix)

日本OMRON形狀測量傳感器
線性(高度方向)(*2)    ±0.1%F.S.
溫度特性(*3)    0.03%F.S./℃    0.02%F.S./℃    0.08%F.S./℃
光源    種類    可視半導體激光
波長    658nm    650nm
輸出    zui大輸出5mW zui大曝光(未使用光學儀器時)1mW    1mW max
激光等    EN60825-1/IEC60825-1的2M、FDA的ⅢB(21CFR1040.10與1040.11)    EN60825-1/IEC60825-1的2、FDA的Ⅱ(21CFR1040.10與1040.11)
光束形狀(根據(jù)測量距離)(*4)    30μm×24mmTYP    60μm×45mmTYP    120μm×75mmTYP    120μm×75mmTYP
LED顯示燈    STAND BY：激光發(fā)光準備就緒時亮起(顯示顏色：綠)
LD_ON：激光發(fā)光時亮起(顯示顏色：綠)
測量對象    不透明物體/透明物體表面    不透明物體表面    不透明物體/透明物體表面
型號
G3B-205S-VD DC5-24
D4F-220-3R
D-1100
D5F-2B34C-Y
J7KNA-09-10 48D
E3T-ST13R 2M
J7KN-40 400
A16-24DSW
E6F-AB5B 360 2M
XW2Z-050J-A25
XW2Z-200J-B5
E39-F32C 1M
XS2R-D426-5
D4BL-1DRA
D4BL-1DRG
A16L-JR
K32-23209
E2K-F10MC1
E2K-X4MY2
TL-N10MY2 2M
TL-W3MB1-8
CS1W-NC113
CS1W-NC133
SHL-Q55
XV2-Q-2
CS1W-MD262
CPM2B-32C1DR-D
3G3JV-PFI3005-E
E6CP-AG5C-C 256 2M
ZX-EDA11 2M
ZX-CAL2
ZX-ED01T